半導體激光手持塵埃(ai)粒子計(ji)數器

采(cai)用全(quan)半導(dao)體(ti)激光傳感器的(de)手持(chi)式激光塵埃粒子(zi)計(ji)數器，可與(yu)PC電(dian)腦數據采(cai)集系統連接(jie)可進(jin)(jin)行(xing)遠程控制(zhi)，可直接(jie)觀測儀器的(de)測試情況，測試數據可通過(guo)電(dian)腦進(jin)(jin)行(xing)分析(xi)處(chu)理并可以保(bao)存為(wei)Excel文件。技(ji)術(shu)指標均滿足國家計(ji)量(liang)總局頒布的(de)JJF 1190-2008 檢定規(gui)程的(de)要求，整(zheng)機(ji)功能采(cai)用美(mei)國微電(dian)腦控制(zhi)處(chu)理技(ji)術(shu)及(ji)半導(dao)體(ti)激光傳感器技(ji)術(shu)及(ji)進(jin)(jin)口氣泵(beng)，具有功能多、測量(liang)精(jing)度(du)高、速度(du)快、便于攜帶和操(cao)作(zuo)簡單等特(te)點。

一次采樣可同時測得多種(zhong)粒徑的塵(chen)埃粒子(zi)數(shu)，這款塵(chen)埃粒子(zi)計(ji)數(shu)器已被廣泛(fan)應用于電子(zi)生產(chan)(chan)(chan)企業潔凈室檢(jian)測；過濾器現場檢(jian)測、撿漏；可監測生物安全，HVAC系統(tong)，計(ji)算機室，飲料包裝環(huan)境(jing)，藥品、醫(yi)療器械(xie)生產(chan)(chan)(chan)環(huan)境(jing)，醫(yi)院潔凈手術室，汽(qi)車噴涂(tu)環(huan)境(jing),微電子(zi)、生化制(zhi)品、食品衛生、精細化工(gong)、精密(mi)機械(xie)等(deng)生產(chan)(chan)(chan)和科研部(bu)門

半導體激(ji)光(guang)手持(chi)塵埃粒(li)子計數器技術指標：

（執行(xing)JJF1190-2008塵埃粒子計數(shu)檢定(ding)規程）

1.自(zi)凈時間： ≤10min；

2.重復性(xing)：≤±10%FS；

3.粒(li)徑分布(bu)誤差：≤±30%；

4.粒子(zi)濃度示(shi)值誤差(cha)：≤±30%；

5.采樣流(liu)量誤(wu)差：2.83升/分≤±5%；

6.安全性能：絕緣電阻(zu)＞20M (正常大(da)氣(qi)條(tiao)件)。

使用條件：

1.溫度：5℃—35℃；

2.相對濕度：RH≤75%；

3.正(zheng)常大氣壓，凈化環境(jing)